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負(fù)載瞬變測(cè)試——SCU大量過(guò)壓損壞該怎樣解決?

更新時(shí)間:2022-03-10 點(diǎn)擊次數(shù):1092

負(fù)載瞬變測(cè)試用于檢測(cè)功率轉(zhuǎn)換器且是一種較為快速的方式,其能夠凸顯出轉(zhuǎn)換器的調(diào)整速度,且能把轉(zhuǎn)換器的穩(wěn)定性問(wèn)題顯示出來(lái)。轉(zhuǎn)換器的負(fù)載調(diào)整特性、占空比極限、PCB布局問(wèn)題和輸入電壓的穩(wěn)定性也可通過(guò)其測(cè)試更加快速的表現(xiàn)出來(lái)。


現(xiàn)下市面上的電子設(shè)備都具備著計(jì)算和無(wú)線連接功能,這些功能電路經(jīng)常顯現(xiàn)出非常重的脈沖負(fù)載特性。面對(duì)此類快速變化的脈沖負(fù)載,全新的DC/DC轉(zhuǎn)換器需要具備快速的環(huán)路響應(yīng)特性進(jìn)行維持輸出電壓的穩(wěn)定。需要測(cè)試此類的轉(zhuǎn)換器,擁有能夠生成與最終應(yīng)用類似的快速變化的負(fù)載的工具是十分關(guān)鍵的。





面對(duì)具備較為穩(wěn)定的負(fù)載的通用型DC/DC轉(zhuǎn)換器,快速的回路響應(yīng)特性是不在考慮的行列中的,所以也不需要進(jìn)行負(fù)載瞬態(tài)響應(yīng)特性的測(cè)試。此時(shí)需要注意的是如果快速階躍變化的負(fù)載施加到一個(gè)穩(wěn)壓器上時(shí),一定會(huì)在很寬的頻帶內(nèi)對(duì)調(diào)節(jié)回路產(chǎn)生沖擊,在一些特殊情況下可能會(huì)出現(xiàn)逼迫它們運(yùn)行在控制回路的極限之下。


采用將一個(gè)快速變化的階躍負(fù)載施加到一個(gè)轉(zhuǎn)換器的輸出端,之后再對(duì)其輸出電壓的響應(yīng)過(guò)程進(jìn)行觀察,能夠讓我們快速且清楚的明白這個(gè)轉(zhuǎn)換器在面臨這樣的狀況時(shí)是否可以維持其輸出電壓的穩(wěn)定,除此之外還可顯示出可能存在的環(huán)路穩(wěn)定性問(wèn)題、電源供應(yīng)的穩(wěn)定性問(wèn)題、斜坡補(bǔ)償問(wèn)題、負(fù)載調(diào)節(jié)性能和PCB布局問(wèn)題。
在下圖中我們可以看到顯示了一個(gè)電流模式Buck轉(zhuǎn)換器在其負(fù)載發(fā)生1A快速跳變時(shí)典型的響應(yīng)過(guò)程,其輸出電壓正常值VOUT NOM = 3.3V。


【電流模式Buck轉(zhuǎn)換器面對(duì)快速瞬變負(fù)載時(shí)的響應(yīng)】


電流模式轉(zhuǎn)換器對(duì)負(fù)載的階躍變化不能夠立刻的做出回應(yīng),因此,在負(fù)載發(fā)生階躍變化的情況下,供給負(fù)載的電流最開(kāi)始時(shí)是來(lái)源于輸出電容里的儲(chǔ)能。面對(duì)負(fù)載的快速跳變,輸出電容的ESR和ESL最先起作用,在輸出電壓上顯示為一個(gè)不大的跳變和尖峰,之后是輸出電容放電的開(kāi)始,這將會(huì)引起輸出電壓的下沉。


輸出電壓的下降將被誤差放大器感知到,對(duì)應(yīng)的也會(huì)引起VCOMP的上升,同時(shí)將會(huì)增加開(kāi)關(guān)Q1導(dǎo)通的占空比,電感電流會(huì)因此增大用來(lái)滿足負(fù)載增大的需求。在此過(guò)程中,電壓下沉的幅度與恢復(fù)的時(shí)間會(huì)取決于多種因素:輸出電容的大小,負(fù)載電流跳變的幅度和它變化的速度dI/dt,誤差放大器的補(bǔ)償水平和整個(gè)控制回路的帶寬。


除去因?yàn)镋SR和ESL引起的尖峰來(lái)看,轉(zhuǎn)換器的階躍響應(yīng)過(guò)程在上述過(guò)程中看起來(lái)是十分平滑的,此代表著此轉(zhuǎn)換器的表現(xiàn)是穩(wěn)健的。響應(yīng)過(guò)程中的電壓下沉幅度為75mV,相當(dāng)于輸出電壓的2.2%,對(duì)于大部分3.3V的電源供應(yīng)來(lái)說(shuō)是能夠接受的。需要注意的是,假如過(guò)程中使用的輸出電容是低ESR的MLCC,由ESR所造成的跳變一般就將看不出來(lái)。



影響轉(zhuǎn)換器響應(yīng)過(guò)程的情形


01

不穩(wěn)定的控制回路:在控制回路調(diào)整得不太理想的情況下,轉(zhuǎn)換器的控制作用可能過(guò)頭,快速負(fù)載階躍也會(huì)存在引起輸出電壓的顛簸或是存在振鈴現(xiàn)象,特殊情況下甚至將會(huì)進(jìn)入振蕩狀態(tài)。

 02

不穩(wěn)定的電源供應(yīng):轉(zhuǎn)換器輸出端的負(fù)載跳變將促使轉(zhuǎn)換器輸入端的電源供應(yīng)器的負(fù)載跳變。如果電源供應(yīng)器的穩(wěn)定性不好,或是和轉(zhuǎn)換器匹配得不好,則電源供應(yīng)器本身將可能振蕩起來(lái),且一定會(huì)傳遞到轉(zhuǎn)換器的輸出端,看起來(lái)就像轉(zhuǎn)換器的控制回路不穩(wěn)定一樣。

03

斜坡補(bǔ)償問(wèn)題:電流模式轉(zhuǎn)換器利用斜坡補(bǔ)償方法避免高占空比應(yīng)用中可能出現(xiàn)的次諧波振蕩。為了讓斜坡補(bǔ)償工作正常,適當(dāng)程度的電感電流紋波一定要有的。電感選擇不當(dāng)將會(huì)引起不當(dāng)?shù)碾娏骷y波,且在遇到階躍負(fù)載時(shí)出現(xiàn)不穩(wěn)定的次諧波。

04

在占空比極限下工作:當(dāng)轉(zhuǎn)換器在接近最小/最大占空比的狀態(tài)下運(yùn)行時(shí),負(fù)載的快速階躍變化將使轉(zhuǎn)換器觸及占空比的極限,這會(huì)促使輸出電壓下沉或上沖過(guò)度,特殊情況下甚至?xí)斐赊D(zhuǎn)換器運(yùn)作在保護(hù)模式下。

05

PCB布局問(wèn)題:如果因?yàn)镻CB布局而引起的阻抗出現(xiàn)在轉(zhuǎn)換器的小信號(hào)環(huán)節(jié)和功率環(huán)節(jié)上,電壓的耗損和噪聲的耦合將會(huì)出現(xiàn),這將劣化轉(zhuǎn)換器對(duì)階躍負(fù)載的響應(yīng)特性。如果負(fù)載處在遠(yuǎn)離轉(zhuǎn)換器的地方,多出來(lái)的路徑阻抗會(huì)在負(fù)載增加時(shí)導(dǎo)致電壓的下沉,劣化轉(zhuǎn)換器的負(fù)載調(diào)整性能。除此之外,當(dāng)負(fù)載發(fā)生跳變時(shí),路徑電感也能導(dǎo)致振鈴信號(hào)的出現(xiàn)。


如下圖所示的是一個(gè)3.3V/3A轉(zhuǎn)換器負(fù)載階躍響應(yīng)較差與良好的例子。左邊的例子顯示調(diào)節(jié)器輸出電壓在負(fù)載暫態(tài)后產(chǎn)生了嚴(yán)重的振鈴情況,這表現(xiàn)出控制回路具有邊際穩(wěn)定性。在大多數(shù)情況下,這與反饋回路補(bǔ)償結(jié)合輸出電容值有關(guān)。





測(cè)試的實(shí)施


以下講述的是關(guān)于實(shí)測(cè)的案列,測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)使用者身邊的產(chǎn)品沒(méi)有測(cè)試過(guò)這個(gè)參數(shù),批量生產(chǎn)后發(fā)現(xiàn)后端MCU在現(xiàn)場(chǎng)大量過(guò)壓損壞。之后更換過(guò)DCDC芯片,使用者還是不太認(rèn)可,害怕事情再次發(fā)生,這時(shí)應(yīng)該如何檢測(cè)?推薦方案如下:


 【測(cè)試演示圖】


一個(gè)受脈沖發(fā)生器控制其通/斷的MOSFET開(kāi)關(guān)。MOSFET開(kāi)關(guān)的切換速度可以采用其柵極的可選的RC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行調(diào)節(jié);MOSFET漏極連接的電阻R2可依據(jù)需求的動(dòng)態(tài)負(fù)載調(diào)節(jié)幅度進(jìn)行選擇;電阻R1用于設(shè)定負(fù)載階躍的靜態(tài)基點(diǎn)。負(fù)載電流的階躍變化可經(jīng)過(guò)示波器的電流探頭進(jìn)行測(cè)量,對(duì)轉(zhuǎn)換器輸出電壓的測(cè)量則需要在輸出電容或是負(fù)載點(diǎn)上進(jìn)行。

使用AFG31252產(chǎn)生一個(gè)快速脈沖,AFG31252能夠簡(jiǎn)單產(chǎn)生4ns的上升或者下降邊沿。


【測(cè)試環(huán)境搭建完畢】


過(guò)程中采用的是這款DCDC的評(píng)估板,其具有到52V的耐壓的BUCK的開(kāi)關(guān)穩(wěn)壓器,評(píng)估板人性化的使用了BNC接口,便于測(cè)試過(guò)程中對(duì)紋波和 Load Transient進(jìn)行測(cè)量。




在此可以看到,這顆芯片一定做過(guò)極為特殊的處理。在負(fù)載發(fā)生大幅度快速階躍時(shí)幾乎*沒(méi)有電壓過(guò)沖發(fā)生。那么這將是對(duì)于電壓敏感型負(fù)載特殊優(yōu)化過(guò),這對(duì)于一些需要DCDC后面直接帶MCU這種對(duì)電壓要求很敏感的需求來(lái)說(shuō)是十分重要的。

打開(kāi)波形,能夠看出,得益于AFG31000系列的4ns的上升速度和TCP0030A高速電流探頭的120Mhz帶寬,得以觀測(cè)到,這個(gè)電流快沿時(shí)間速度高達(dá)1.6A/us !



經(jīng)過(guò)手冊(cè)可以知道的是,因?yàn)檫@顆芯片支持多模式開(kāi)關(guān)方式切換,為了能夠在各種工作電流情況下都可以得出*的效率。



因此還需要繼續(xù)檢測(cè)在不同模式轉(zhuǎn)換的過(guò)程中,是否還存在過(guò)壓發(fā)生。






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